arXiv · cs.AI · Fadel M. Megahed, Ying-Ju Chen · 10 小时前模型评分39
超越 CLIP：用 System One 决策模型实现可校准的少样本缺陷检测
Beyond CLIP: Calibrated (Few-Shot) Defect Detection With System One Decision Models
导读
研究测试了 Jev 与 Clef-Flash 两种结构化决策模型在每类仅 2 张参考图时的缺陷检测表现，在五个制造案例中准确率分别为 0.75-1.00 和 0.71-0.99，均高于 CLIP 的 0.67-0.84。
分类置信度
中 · 待人工复核
- 只有单一媒体来源，需要人工复核。
来源级别：媒体与个人
应用领域：制造与工业
事件类型：研究发布
证据摘录
- “In this paper, we examine the utility of two recently proposed structured decision models (Jev and Clef-Flash) in applications using as few as k=2 reference images per class at inference.”
- “We also provide a publicly available web app that allows practitioners to inspect their own images with no code.”
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